东莞市赛思检测设备有限公司 主营:高低温交变湿热试验箱、高低温冲击试验箱、液态冲击试验箱、快速温度变化试验箱、步入式温湿度试验室、三综合试验箱、盐雾试验箱、UV紫外线耐气候试验机、淋雨试验箱、IPX9K高温高压喷水试验箱、防尘试验箱等气候环境试验设备
PRODUCTS DETAILS
产品详情

高低温冲击快速温变试验箱

  • 如果您对该产品感兴趣的话,可以
  • 产品名称:高低温冲击快速温变试验箱
  • 产品型号:SER
  • 产品展商:赛思
  • 产品文档:无相关文档
简单介绍

高低温冲击快速温变试验箱对不同电子构件,在实际使用环境中遭遇的温度条件,改变环境温差范围及急促升降温度改变,可以提供更为严格测试环境,缩短测试时间,降低测试费用,但是必须要注意可能对材料测试造成额外的影响,产生非使用状态的破坏试验。(需把握在失败机制依然未受影响的条件下)RAMP试验条件标示为:Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是温度循环(可控制斜率的温度冲击)。

产品描述

高低温冲击快速温变试验箱 特 点:

1、可执行AMP(等均温变)、三箱冲击(TC)、两箱冲击(TS)、高温储存、低温储存功能;

2、等均温速率赛思可设定范围5℃~30/min(40/min)

3、满足无铅制程、无铅焊锡、锡须(晶须)DELL D4559MOTOIEC-60068-2-14NBJESC22-A14CIPC-9701...等试验要求;

4、赛思采用美国Sporlan公司新型PWM冷控制技术实现低温节能运行;

5、除霜周期三天除霜一次,每次只需1小时完成;

6、通信配置RS232接口和USB储存曲线下载功能;

7、感测器放置测试区出(回)风口赛思设计符合实验有效性;

8、机台多处报警监测,配置无线远程报警功能;

高低温冲击快速温变试验箱 节能控制方式:

制冷压缩机启停控制温度(温度波动大、严重影响压缩机寿命,已淘汰的技术)制冷压缩机恒定运行+加热PID控制(导致制冷量与加热相抵消实现温度动态平衡,浪费了大量的电能)新型PWM冷控制技术赛思实现低温节能运行:低温工作状态,加热器不参与工作,通过PWM技术控制调节制冷机组制冷剂流量和流向,对制冷管道、冷旁通管道、热旁通管道三向流量调节,实现对工作室温度的自动恒定。此方式在低温工况下,可实现降低40%的能耗。 

高低温冲击快速温变试验箱 标准: 

无铅制程、无铅焊锡、锡须(晶须)DELL D4559MOTOIEC-60068-2-14NBJESC22-A14CIPC-9701...等试验要求。

产品&规范

厂商名称

高温

低温

温变率

循环数

循环时间

备注

MIL-STD-2164GJB-1032-90
电子产品应力筛选

——

工作极限温度

工作极限温度

5/min

1012

3h20min

——

MIL-344A-4-16
电子设备环境应力筛选

设备或系统

71

-54

5/min

10

——

——

MIL-2164A-19
电子设备环境应力筛选方法

——

工作极限温度

工作极限温度

10/min

10

——

驻留时间为内部达到指定温度10℃时

NABMAT-9492
美军海军制造筛选

设备或系统

55

-53

15/min

10

——

驻留时间为内部达到指定温度5℃时

GJB/Z34-5.1.6
电子产品定量环境应力筛选指南

组件

85

-55

15/min

25

——

达到温度稳定的时间

GJB/Z34-5.1.6
电子产品定量环境应力筛选指南

设备或系统

70

-55

5/min

10

——

达到温度稳定的时间

笔记本电脑

主板厂商

85

-40

15/min

——

——

——


TSR(斜率可控制)[5℃~30 /min]

30/min

电子原件焊锡可靠度、PWB的嵌入电阻&电容温度循环 MOTOROLA压力传感器温度循环试验

28/min

LED汽车照明灯

25/min

PCB的产品合格试验、测试Sn-Ag焊剂在PCB疲劳效应

24/min

光纤连接头

20/min

IPC9701 、覆晶技术的极端温度测试、GS-12-120、飞弹电路板温度循环试验 PCB暴露在外界影响的ESS 测试方法、DELL计算机系统&端子、改进导通孔系统信号 比较IC包装的热量循环和SnPb焊接、温度循环斜率对焊锡的疲劳寿命

 

17/min

MOTO

15/min

IEC 6074925JEDEC JESD22-A104BMIL DELL液晶显示器 电子组件温度循环测试(家电、计算机、通讯、民用航空器、工业及交通工具、 汽车引擎盖下环境)

11/min

无铅CSP产品温度循环测试、芯片级封装可靠度试验(WLCSP) IC包装和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A

10/min

通用汽车、 JEDEC JESD22-A104B-JGR-1221-CORE CR200315 MIL JEDEC JESD22-A104-A-条件1 、温度循环斜率对焊锡的疲劳寿命、 IBM-FR4板温度循环测试

5/min

 

锡须温度循环试验

高低温冲击快速温变试验箱 技术规格:

型号

SER-A

SER-B

SER-C

SER-D

内箱尺寸
W x D x H cm

40×35×35

50×50×40

60×50×50

70×60×60

外箱尺寸
W x D x H cm

140×165×165

150×200×175

160×225×185

170×260×193

温度范围

-80.00℃~+200.00

低温冲击范围

-10.00℃~-40//-55//-65.00

高温冲击范围

+60.00℃~+150.00

时间设定范围

0 hour 1 min 9999 hour 59 min/segment

温度波动度

1℃(≤±0.5℃,按GB/T5170-1996表示)

温度偏差

≤±2℃(-65℃~+150℃)

温度均匀度

2.00℃以内

温变速率(斜率)

+5℃~+30/min(+40)

温变范围

-55℃~+85//+125

产品留言
标题
联系人
联系电话
内容
验证码
点击换一张
注:1.可以使用快捷键Alt+S或Ctrl+Enter发送信息!
2.如有必要,请您留下您的详细联系方式!

粤公网安备 44190002002175号

友情链接:88彩票  平安彩票网  盛世彩票  盛世彩票  88彩票网  盛世彩票  盛世彩票  

免责声明: 本站资料及图片来源互联网文章,本网不承担任何由内容信息所引起的争议和法律责任。所有作品版权归原创作者所有,与本站立场无关,如用户分享不慎侵犯了您的权益,请联系我们告知,我们将做删除处理!